武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)透射電子顯微鏡（JEM-2100Plus）已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，即日起對(duì)校內(nèi)開(kāi)放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測(cè)試！

一、基本參數(shù)

型號(hào)：JEM-2100Plus

廠(chǎng)家：日本電子株式會(huì)社（JEOL）

燈絲類(lèi)型：LaB₆

加速電壓：80 – 200 kV

線(xiàn)分辨率：0.14 nm

放大倍數(shù)：x30 – 1.5 M

相機(jī)：JEOL Flash相機(jī)

能譜：JED2300（60 mm²）

二、應(yīng)用領(lǐng)域

透射電子顯微鏡（TEM）因具有較高分辨率，較好的微區(qū)分析能力，被廣泛用于金屬材料、半導(dǎo)體材料、有機(jī)復(fù)合材料等的形貌拍攝和結(jié)構(gòu)表征。JEM-2100Plus采用多級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì)在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度電子束，大大提高了分析和衍射成像能力。配備有日本電子JED2300特征X射線(xiàn)能譜探測(cè)器，用于定性分析材料元素組分，以及半定量分析各元素含量。JEM-2100Plus在材料的形貌拍攝、晶體結(jié)構(gòu)表征、成分分析等方面可以發(fā)揮出重要作用。

預(yù)約請(qǐng)登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101B

聯(lián)系人：曾老師15827562929；李老師13163286278