武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)掃描電鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用系統(tǒng)（MIRA），其中掃描部分已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，拉曼系統(tǒng)由于疫情原因暫未安裝，為早日滿(mǎn)足校內(nèi)師生測(cè)試需求，即日起對(duì)校內(nèi)開(kāi)放試運(yùn)行，歡迎預(yù)約測(cè)試！
一、基本參數(shù)
掃描電子顯微鏡（SEM）
型號(hào)：MIRA
廠(chǎng)家：捷克泰思肯公司（TESCAN）
分辨率：1.0 nm@ 30 kV 1.8 nm@ 1 kV
放大倍數(shù)：2 x– 1000,000 x
加速電壓：0.05 – 30 kV
探針電流：2 pA–400 nA
樣品室：340 mm（寬度）x 315 mm（深度）
樣品臺(tái)：5軸計(jì)算機(jī)控制，優(yōu)中心全自動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)X = 130 mm；Y = 130 mm；Z = 95 mm；T = -60°–90°；R = 360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)
拉曼光譜儀（RAMAN）
廠(chǎng)家：德國(guó)Witec
空間分辨率：XY方向優(yōu)于500 nm，Z方向優(yōu)于1500 nm（532 nm激光）
激發(fā)光波長(zhǎng)：488 nm，532 nm，633 nm
平插能譜儀（EDS）：XFlash FlatQUAD，60 mm2
斜插能譜儀（EDS）：XFlash6|60，60 mm2
能量分辨率（Mn Ka）：優(yōu)于129 eV
元素分析范圍: Be4～Cf98
二、應(yīng)用領(lǐng)域
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡具有較高分辨率，能進(jìn)行各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像（SE）、背散射電子像（BSE）觀(guān)察及圖像處理。廣泛用于金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、考古和文物鑒定分析。該電鏡配有平插能譜儀和斜插能譜儀，可用于表面的成分、元素定量、定性分析，多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測(cè)量。此外，該電鏡配備有拉曼成像系統(tǒng)（目前未安裝），激發(fā)光波長(zhǎng)488 nm，532 nm，633 nm，可以實(shí)現(xiàn)電鏡內(nèi)共聚焦拉曼2D和3D成像。
預(yù)約請(qǐng)登錄：https://facility.whu.edu.cn/
地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101D
聯(lián)系人：郭老師15077903171，李老師13277058601
